异质结电池方阻的非接触测试方法
Presntd bySemilab异质结电池方阻的非接触测试方法基于差分结电压(dif-JPV)技术201/54 w.semilab.co 内容•研究目的技术原理–JPV简介dif-特点•测试结果–TCO方阻的测试结果i/p非晶硅•论 附录:–四探针测试准确性探讨201/54 w.semilab.co 2 研究目的•往期进展:结电压法(JPV)方阻测试技术可适用于–扩散池(如ERC、ERT和BSF等)方阻的精确、快速测量[1]电反型层方阻的离线量[2] 201/54 w.semilab.co 3Refrncs:[1] F.Koó tal.,AIP Cnferc odings 2147,06 (9).2SEyMatl Fax: 21-567E-mail: sib@sila.conWesit: w.seila.com