便携式光伏电站EL检测仪

便携式光伏电站光伏电站安装前的电池组件EL测 试的过程即晶体硅太池注入大量非平衡载流子地复合发 光，放出光子些光子， 通过计算机进行处行1》是光伏电池组件出厂前EL检测，此检测过程使用线行全检， 以确保组件完好没级划分再发送给电站。 此过性能跟 EL的全部检测报告2》是电站现场安装前的检内部缺陷检测， 电性能检对其电性能检测并没有任何寿命， 且拉低整条串联 方阵能明确厂家组件是否具有内也可以在次过程中检测出伏电站 EL检测仪 - 说明 池组件一般需要两个流程的检测检查 体硅太阳电池外加正向偏置电压， 直流电源向晶流子， 太阳电池依靠从扩散区注入的大量非平衡光子，也就是光伏效应的逆过程；再利用 ccd进行处理后以图像的形式显示出来， 整个过程都出厂前检测，目前光伏组件产线基本在装框后都使用线上 全自动 EL检测仪 进行测试，直接与流完好没有任何内部隐裂， 或真的其不同内部缺陷此过程中的组件质检全部由组件厂商负责，测报告。 前的检测，在电站现场收到组件后，必须进行必要性能检测并不是很标准，有的具有断栅，低效率有任何影响， 但是此组件安装上支架后比如只有方阵发电效率。 故电站现场安装前 EL检测非具有内部缺陷， 或者在运输过程中给组件造成的测出 来。此过程的 EL检测设备是德威时 户外便源向晶体硅太阳电非平衡载流子不断cd 相机捕捉到这过程都在暗室中进。框后都有一次组件接与流水线对接进部缺陷情况进行等， 其必须要有电进行必要的组件 EL低效率片的组件，只有较短的发电检测非常必要， 其造成的内部隐裂等，户外便携式 EL检测仪 ，此设备特点为方便携的 EL 检测仪，具体操作流仓库内或者室内检测： 白天脚架上， 对着组件进行内部易帐篷组件红外暗室，在暗红外相机防止三脚架上进行此相机已经经过滤光处理取出来退换。 电站现场室外户外检测：暗室进行 EL 内部缺陷检测设备自带移动电源以便户外上安装。 来料检测完好的组件进行支终的 EL 检测，以防止在安此过程中可直接搭建三脚架EL检测仪自动对焦功能使得在完成安装后检测， 其光伏组件在哪块环节出现问题责缺陷的组件才是最大功率与方便携带，客户可直接带到厂商，仓库，电站现操作流程非常简单； 白天， 如无强烈太阳光照射， 可直接将红外相行内部缺陷的检测。 如有强烈太阳能光照射则需在暗室内 将组件抬进去 EL检测。 夜晚，上进行检测， 无需暗室 （ 德威时 EL检测仪不受月处理， 月光， 灯光对于测试无任何影响。 检测有： 白天， 阳光下检测需搭建防红外暗室帐篷陷检测。 夜晚， 组件检测直接使用红外相机三脚架便户外上电使用。 此过程中检测问题的组件可直进行支架安装， 在电站组件全部安装后， 还需对止在安装过程中由于施工问题使得组件出现内部三脚架进行单个或者多个方阵组件的检测，能使得此过程中检测速度非常快速。 其光伏电站的检测全部完成， 不同环节的检测问题责任有明确查询， 将没有任何推诿的可能性功率与最长工作寿命的保障。 电站现场进行组件红外相机放置在三射则需要搭建防简，也是直接使用不受月光的干扰 ） 。检测有问题的组件帐篷， 抬放组件进三脚架进行检测，件可直接进行支架还需对组件进行最现内部缺陷问 题，，德威时便携式检测， 也可以对于可能性。 且无任何EL测试常见缺陷及分析2.1 破片组件中的破片多出现在组件电池片中有黑块， 因为电池该部分在 EL 测试中不发光2.2 隐裂晶 体硅太阳电池所采用的中很容易产生裂片。 裂片分接看到 的，在组件生产过看到的， 并且在组件的制作具有一定的规 则， 通过沿着电池片对角线方向的区分是多晶硅的晶 界还是在组件封装过程的焊接和层压工序，在 EL测试为电池片破裂后在电池片破裂部分没有电流注入不发光。 采用的硅材料本身易碎，因此在电池片生产和组裂片分两种一种是显裂， 另一种是隐裂。 显裂是生产过程中的分选工序就可以剔除；而隐裂是肉的制作过程中更容易产生破片等问题。 由于单晶EL测试图可以清晰地看到单晶硅电池片的隐向的“ x”状图形；多晶硅电池片由于晶界的影界还是电池片中的隐裂纹。 测试图中表现为流注入， 从而导致产和组件封装过程显裂是肉眼可以直裂是肉眼无法直接于单晶硅的解离面片的隐裂纹一般是界的影响有时很难2.3 断栅电池片的断栅主要是由于电从 EL 测试图中表现为沿电EL 测试过程中从电池片主没有，从而导致电池片的断由于电池片本身栅线印刷不良或电池片不规范焊为沿电池片主栅线的暗线， 这是因为电池片的副栅池片主栅线上注入的电流在断栅附近处的电流密片的断栅处发光强度较弱或不发光。 规范焊接造成的。的副栅线断掉 后，电流密度很小甚至2.4 烧结缺陷在电池片生产过程中， 烧结的电池片在 EL 测试过程中的工装改造就可以有效的消池片在 EL测试图只能看到烧结工序工艺参数不佳或烧结设备存在缺陷时过程中会显示为大面积的履带印。 实际生产中通过效的消除履带印的问题。 例如采用顶针式履带生能看到若干个黑点而没有大面积的履带印。 缺陷时， 生产出来中通过有针对 性履带生产出来的电2.5 黑芯片黑芯片在 EL 测试图中我们圆， 它们产生于硅材料生产关系。 此种材料缺陷势必导池片中有此类缺陷的部分在中我们可以清晰的看到从电池片中心到边缘逐渐料生产阶段， 与硅棒制作过程中氧的溶解度和分凝势必导致晶体硅电池片的少数载流子浓度降低部分在 EL 测试过程中表现为发光强度较弱或不缘逐渐变亮的同心和分凝系数大 有降低， 从而导致电弱或不发光。 2.6 电池片混挡一块组件的 EL 测试图中有较弱， 这是由于这部分电池或电压分档不一致造成的图中有部分电池片发光强度与该组件中的大部分分电池片的电流或电压分档与该组件中大部分电成的。 大部分电池片相比部分电池片的电流2.7 电池片电阻不均匀EL 测试单个电池片表面发较暗区域一般串联电阻较大陷部位少子跃迁机率降低上海德威时是通过技术研发完整解决方案 : EL 检测仪池片测试仪，电池片阳能组件测试仪 , 电池片分检测仪。 表面发光强度不均匀，这是由于电池片电阻不均阻较大。 这种缺陷也能反应电池片少子寿命的分降低，在 EL测试过程中表现为发光强度较弱术研发生产为您提供光伏电池组件检测及 电站测仪 ,EL 测试仪 , 便携式组件 EL 测试仪 ,EL 缺陷EL 检测仪，组 件 EL 检测仪，便携式组件功率池片分选机，室外组件检测仪，电站 EL 测试仪阻不均匀造成的 , 命的分布状况， 缺较弱。 电站检测维护的缺陷检测仪 , 电件功率测试仪，太试仪，便携式 EL