2硅片制备与高温工艺	2018-08-21
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	3.硅片电阻率的测试	2018-08-21
	1 硅片电阻率的测试一、实验目的1. 了解半导体材料方块电阻的概念。2. 理解四探针法测量半导体电阻率和方块电阻的原理；3. 学会使用四探针测试仪测量硅圆薄片的电阻率。二、实验原理1. 方块电阻的定义如图 1 所示，方形薄片，截面积为 A，长、宽、厚分别用 L、 w、 d 表示，材料的电阻率为 ρ ，当电流如图示方向流过时， 若 Lw， 这个薄层的电阻称为方块电阻，一般用 R□ 表示，单位为
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	(目录)2018年版中国太阳能硅片产业投资分析及前景预测报告	2018-08-21
	1 2018 年版中国太阳能硅片产业投资分析及前景预测报告2 报告信息▼出版日期 2018 年报告价格 中文电子 7200元 中文纸介 7000 元 中文全版 7500元English version ＄ 4200 USD 可开增值税专用发票交付方式 Email 电子版 / 特快专递报告目录▼第一章 2015-2017 年太阳能硅片发展分析第一节、太阳能硅片概述一、硅材料的制备二、
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	2011-2015年中国硅片市场行情监测与投资规划研究报告	2018-08-21
	报告中国 www.baogao007.com报告中国 -权威市场研究报告 | 最新市场调查报告 | 专业市场调研报告 www.baogao007.com2011-2015年中国硅片市场行情监测与投资规划研究报告第一章 2010 年世界硅片 行业 整体运营状况分析第一节 2010 年世界硅片 产业 运行环境浅析第二节 2010 年世界硅片行业 市场 运行格局一、世界硅片市场亮点分析二、全球核
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	04硅片清洗技术发展	2018-08-21
	收稿 1999 年 4 月 , 收修改稿 1999 年 5 月3 通讯联系人超大规模集成电路硅片溶液清洗技术的进展张树永 3 郭永榔山东大学化学学院 济南 250100曹宝成 于新好山东大学光电子材料与器件研究所及国家电子清洗技术研究推广中心 济南 250100摘 要 本文综述了超大规模集成电路制造过程中硅片溶液清洗技术的研究历史及现状 , 并对技术的未来发展进行了展望 。关键
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	8_扩展电阻法测硅片微区电阻率变化	2018-08-21
	理学院应用物理系专业实验指导书58 实验八 扩展电阻法测硅片微区电阻率变化扩展电阻探针法用于定量测量某些半导体材料的局部点导率， 空间分辨率高测量取样体积为 10-10cm3 左右，测量重复精度优于 1。将硅片磨角后用扩展电阻法可以测量分辨深度方向 30nm 以内电阻率的变化。因此， 扩展电阻探针是硅材料及器件生产工艺质量测试手段，也可以用于砷化镓、 化铟等其他半导体材料的电阻率分布测试。一、
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	【英文】硅片行业术语大全(中英对照)	2018-08-21
	Acceptor - An element, such as boron, indium, and gallium used to create a free hole in a semiconductor. The acceptor atoms are required to have one less valence electron than the semiconductor. 受主 -
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	2、张辉_下一代硅片技术和发展趋势	2018-08-21
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	(目录)2018-2023年中国太阳能硅片硅锭行业市场评估分析与投资战略研究报告(目录)	2018-08-21
	2018-2023 年中国太阳能硅片硅锭行业市场评估分析与投资战略研究报告报告信息报告类型 多用户、行业报告报告编号 77841 ←咨询时，请说明此编号报告价格 电子 7200 元 纸介 7200 全版 7500可开增值税专用发票网上阅读 http/www.cn-bigdata.cn/report/20171114/77841.html 报告目录第一部分 发展现状与前景分析第一章
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	(100)、(110)硅片湿法各向异性腐蚀特性研究	2018-08-21
	武汉理工大学硕士学位论文（ 100）、（ 110）硅片湿法各向异性腐蚀特性研究姓名李志伟申请学位级别硕士专业材料物理与化学指导教师周建20080401
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