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电致发光(EL)原理及在太阳电池缺陷检测中的应用-姚骞金井升朱生宾（21页）

电致发光EL原理及在太阳电池缺陷检测中的应用姚骞金井升朱生宾 2009/11/19 1 电致发光原理. 电致发光是一种直接将电能转换为光能的现象。按照原理可分为低场电致发光和高场电致发光。低场电致发光又称为注人式发光半导体发光二极管 LED就是这种发光方式低场电致...

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钙钛矿太阳能电池缺陷钝化技术的研究进展（15页）

第 48卷第 12期 20 19年 12月人工晶体学报 JO.URNAL O.F S YNTHETI. C CRYS TALS V o l. .48 No .12 D ecember， 20 19 钙钛矿太阳能电池缺陷钝化技术的研究进展钟东霞

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人工智能技术实现光伏制造精细化管理缺陷检测、质量管理-诺威特窦军（30页）

人工智能技术实现光伏制造精细化管理缺陷检测、质量管理苏州诺威特测控科技有限公司 14thCSPV西安 2018.11 目录 01 概念介绍 02 设备智能化方案 03 设备智能化升级 04 精细化管理 05 报告总结概念介绍 01. 概念介绍人工智能、深度学习 ■ 人工智能 Artific

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铸造单晶硅材料-生长和缺陷控制-杨德仁（34页）

-- -- Deren Yang --

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LeTID的当前认识：缺陷消减、模型以及根本成因（27页）

p技术总结 LeTID是一个复杂但是被很好地理解的问题，针对工业PERC电池已经有了很多消减的技术。在LeTID之上，我们需要开始评估氢致表面衰减的影响以及对应的解决方案，本报告将从以下几点进行讨论关于LeTID的缺陷消减、模型以及根本成因 LeTID的简略发展史评估LeTID...

下载价格：5 金币 / 发布人：光伏小萝莉 / 发布时间：2020-02-25 / 654人气

10001627_光伏组件电致发光缺陷检测仪检测软件研究与开发（6页）

基金项目福建省科技厅公益类科研院所专项 2017R1033-6 基于 matlab/C的 EL图像分辨率量化分析。作者简介何翔（1990/8/14），男，福建福州人，福建省计量科学研究院/国家光伏产业计量测试中心助理工程师，主要从事光伏计量的研究，地址福建省福州市鼓楼区华林路 14...

下载价格：6 金币 / 发布人：光伏小萝莉 / 发布时间：2019-11-06 / 210人气

铸造单晶硅材料——生长和缺陷控制-硅材料国家重点实验室杨德仁（31页）

下载价格：5 金币 / 发布人：徐三将军 / 发布时间：2019-08-29 / 467人气

晶硅太阳能电池体缺陷钝化设备产品介绍-常州视窗能源科技有限公司（23页）

下载价格：6 金币 / 发布人：行研小秘书 / 发布时间：2019-08-12 / 683人气

3-1 电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法 T CPIA 0009—2019 （20页）

ICS 27.160K83 T/CPIA 0009 2019电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法 Test method for cell defects in crystalline silicon photovoltaicmodules by electr

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晶硅太阳能单晶电池EL缺陷分析研究-代同光-国家电投集团.pdf （2页）

144 ELECTRONICS WORLD・技术交流晶硅太阳能单晶电池EL缺陷分析研究国家电投集团西安太阳能电力有限公司代同光贾光亮贾永军郭永刚王举亮郭超平【摘要】重点分析研究晶硅太阳能单晶太阳电池EL常见缺陷原因，电池片EL常见缺陷主要分为原材料类导致的缺...

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晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告(外发版) （27页）

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下载价格：3 金币 / 发布人：情深不寿ゞ / 发布时间：2018-08-24 / 361人气

【原创】晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告（27页）

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下载价格：3 金币 / 发布人：情深不寿ゞ / 发布时间：2018-08-24 / 343人气

-晶体硅太阳能电池的缺陷检测及分析（6页）

第 12 届中国光伏大会暨国际光伏展览会论文（晶体硅材料及电池）晶体硅太阳能电池的缺陷检测及分析李召彬李召彬王祺王祺丁娈丁娈季亦菲（中电电气（南京）光伏有限公司 211100）摘要针对晶体硅太阳电池缺陷的检测问题，利用多种测试设备（ EL、 PL、 Corescan等...

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晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告(外发版)(20180813093904) （27页）

下载价格：3 金币 / 发布人：情深不寿ゞ / 发布时间：2018-08-24 / 384人气

晶体硅太阳电池的缺陷检测（17页）

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多晶硅太阳电池转换效率和晶体缺陷相关性_张映斌（7页）

第 34 卷第 5 期2015 年 10 月红外与毫米波学报J． Infrared Millim ． WavesVol ． 34， No． 5October， 2015文章编号 1001 － 9014（ 2015） 05 － 0551 － 07 DOI 10． 11972 /j ．i

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缺陷太阳电池EL图像及伏安特性分析（4页）

现代科学仪器Modern Scientific Instruments第5 期 20 10年 10月N o. 5 Oct. 20 10 105缺陷太阳电池 EL 图像及伏安特性分析肖娇徐林曹建明（上海交通大学物理系太阳能研究所上海 200240）摘要本文基于电致发光（ Electrolu

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EPI缺陷介绍（25页）

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一种控制硅片表面缺陷产生的新方法（5页）

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硅中的缺陷和硅片热处理（6页）

文章编号 1005 - 2046 2000 04 - 0171 - 06收到日期 2000204207作者简介闵靖 1941～ , 男 , 教授级高级工程师 1硅中的缺陷和硅片热处理闵靖 , 邹子英上海市计量测试技术研究院 , 上海 200233摘要本文评述了近年来着重研究的 C

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