Semiconductor Technology Vol. 29 No. 11November 2004 51 引 言硅片级可靠性 测试最早是为了实现内建 可靠性而提出的一种测试手段 [1]因此 工艺工程师在调节了工艺后实时地了解工艺调节后对可靠性的影响如今 所...
下载价格:3 金币 / 发布人: 索比杜金泽 / 发布时间:2018-08-21 / 265人气