龙源期刊网 http//www.qikan.com.cn 抗 PID 工艺对多晶电池片表面质量的影响作者刘东林 周水生 沈方涛来源科技创新与应用 2014 年第 35 期摘 要 PID 现象和电池片表面的减反射膜的折射率有关,提高反射层的折射率可以有效地降低 PID 现象的发生。文章研究的主要内容.
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