实验三四探针法测试硅片的电阻率 （4页）

实验三 四探针法测试硅片的电阻率一、 实验目的1．理解非平衡载流子的注入与复合过程；2．了解非平衡载流子寿命的测量方法；2．学会光电导衰退测量少子寿命的实验方法。二、 实验原理1．方块电阻对任意一块均匀的薄层半导体，厚 W，宽 h，长 L。图 1 薄层半导体示意...

下载价格：3 金币 / 发布人： 索比杜金泽 / 发布时间：2018-08-21 / 558人气