硅片参考面晶向 X 射线测试方法编制说明. 一 工作简况1. 任务来源根据原中国有色金属工业总公司中色协字 [200 ] 号文件下达制订国家标准GB/T13388-92 硅片参考面结晶学取向 X射线测试方法(以下简称参考面晶向测试方法)的任务,由有研半导体材料股份有限公司负责该...
下载价格:3 金币 / 发布人: 索比杜金泽 / 发布时间:2018-08-21 / 412人气