新技术产品精准IV测试案例分析-戴健

新技术产品精准IV测试案例分析2021.10.20 苏州 Jinko Solar Co., Ltd. 2 CONTENTS 实验室量值溯源及能力验证晶科简介新技术产品精准IV测试案例分享123目 录 JinkoSolar Holding Co., Ltd. jinkosolar.com 马来西亚槟城美国佛罗里达 晶科能源全球化布局提供本土化解决方案12生产基地 25000全球员工160销往国家 3000全球客户35全球服务中心中国江西上饶安徽滁州浙江义乌浙江海宁浙江玉环中国新疆青海云南四川 分公司代表处 越南广宁 JinkoSolar Hol i ., . JinkoSolar Holding Co., Ltd. jinkosolar.com 产业生态 JinkoSolar Holding Co , Ltd. 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 5 领先技术 研发投入12.74亿（RMB）申请专利1632授权专利968研发团队900人 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 6 晶科实验室分布及规划 晶 科全 球 实 验 室 管 理 中 心上 饶 实 验 室 A 上 饶 实 验 室 B 海 宁 实 验 室 马 来 实 验 室 义 乌 实 验 室 滁 州 实 验 室 越 南 实 验 室 晶科实验室属于研发中心，共有6个基地，7个实验室（2个在建）；扁平化的管理运营模式，简化内耗的流程汇报，快速实施决策. 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 7 实验室质量体系及资质ISO/IEC17025运作体系 实验室获得资质 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 8 CONTENTS 实验室量值溯源及能力验证晶科简介新技术产品IV测试123目 录 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 9 溯 源 一 级 标 板WPVS 长 期 控 制 件 被 测 样 品具备一致性 Fraunhofer、TUV莱 茵 、 北德 、 UL等 测试 机 构定期比对，掌握差异化 实验室IV量值溯源及传递 l 晶 科 使 用 NIM标 定 的 WPVS电 池 及 一 级 标 板作 为 溯 源 基 准 ； l 定 期 样 品 送 样 第 三 方 机 构 确 认 其 测 试 基准 稳 定 性 及 机 构 间 基 准 差 异 性 .l 长 期 控 制 件 确 保 测 试 基 准 稳 定溯源及量值传递控制稳定性保证 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 10 WPVS测试一级标板溯源NIM的WPVS基准测试NIM的一级标板具备较好的一致性； WPVS测 试 470.35 471.96 471.61 470.71 471.05 484.53 487.23 485.20 487.14 487.23 一 级 标 板 测 试 470.79 472.35 472.09 470.98 471.41 484.84 487.68 485.41 487.59 487.78 差 异 0.44 0.39 0.47 0.28 0.36 0.31 0.45 0.22 0.45 0.55 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10350370390410430450470490 WPVS、 标 板 分 别 测 同 批 样 品 TOPCON WPVS、标板分别测同批样品分别用溯源NIM的WPVS和一级标板测试同批样品，同样具备较好的一致性 中 国 计 量 标 定 值 264.4 288.1 432.2 427.8 481.6 486.6 晶 科 实 验 室 263.9 288.3 432.1 427.8 481.6 486.5 差 值 0.5 -0.2 0.1 0.1 0.0 0.1多 晶 常 规 单 晶 PERC-1 PERC-2 TOPCon-1 TOPCon-2050100150200250300350400450500 用 溯 源 NIM的 WPVS测 试 溯 源 NIM的 一 级 标 板 PERC WPVS与一级标板互相验证 PERC TOPCON 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 11 2020年NIM全国能力验证比对结果Jinko Jinko Jinko Jinko NIM 324.2 383.9 367.1 252.8 403.2晶 科 325.2 384.3 367.5 252.3 402.5差 异 值 1 0.4 0.4 -0.5 -0.7多 晶 PERC单 玻 PERC双 玻 正 面 PERC双 玻 背 面 PERC半 片050100150200 250300350400450 晶 科 实 验 室 与 NIM结 果 对 比2020年晶科海宁和上饶实验室参加NIM组织的全国能力验证全部比对项目，全部获得“满意”结论，并且测量结果与行业中位值非常 接近，与组织方NIM实验室的测量结果差异都在1W内。 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 122020年晶科海宁和上饶实验室参加CTC组织的全国能力验证全部比对项目，全部获得“满意”结论，并且测量结果组织方CTC实验室的测量结果非常接近，大多都在1W内。 2020年CTC全国能力验证比对结果Jinko Jinko CTC 3 3 1 .0 0 3 2 8 .5 6 3 4 5 .6 8 3 7 5 .0 0晶 科 3 3 1 .0 2 3 2 9 .7 8 3 4 6 .1 9 3 7 4 .6 9差 异 值 0 .0 2 1 .2 2 0 .5 1 -0 .3 1常 规 多 晶 常 规 单 晶 PERC多 晶 PERC单 晶0 5 0 1 0 0 1 5 0 2 0 0 2 5 0 3 0 0 3 5 0 4 0 0 功值 晶 科 实 验 室 与 CTC实 验 室 结 果 对 比 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 13 能力验证证书 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 14 CONTENTS 实验室量值溯源及能力验证晶科简介新技术产品IV测试123目 录 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com高品质技 术 趋 势 高 能 量 密 度 兼 顾 成 本 /跨 界 多 维 度 发 展 硅 片 100mm→ 210mm（ 大 硅 片 技 术 成 熟 推 动 成 本 下 降 ）电 池 P型 Poly → P型 Mono→ N型 Mono（ 电 池 效 率 提 升 推 动 能 力 密 度 提 升 ）组 件 全 片 → 半 片 → 多 主 栅 → 叠 焊 /叠 瓦 /小 间 距 （ 组 件 技 术 革 新 推 动 能 量 密 度 提 升 ）TOPCON/HIT等新技术产品逐渐规模化量产，电池组件VOC及能量密度大幅提升，新技术产品对于电容效应的变化已成为IV准确测量的关键所在。 高能量密度低系统成本高电池效率常规全片组件 高组件效率P型多晶-19.2PERC 单晶 -23 N型单晶-24 半片、多主栅组件 叠焊/叠瓦/小间距组件光 伏 新 技 术 产 品 趋 势 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 16 容性电池测试脉宽要求 PN结电容分为势垒电容和扩散电容，在正向偏压时主要考虑扩散电容，扩散 电容随外电压成指数型变化，IV测试过程中扩散电容动态变化，电容的“放电电流”IcCd *dV/dt, 扫描时间越短， dV/dt比值越大，Ic就越大，因此Voc-Isc扫描，外电压变小，Cd变小，电池的扩散电容向负载“放电”，测量电流偏大。 dV/dt ＜0 ，测量值大于实际值；Isc-Voc扫描，外电 压变大，Cd变大，电池的扩散电容向负载“充电” ，测量电流偏小；dV/dt ＞0，测量值小于实际值； 控制电压变化速率（dV/dt ）， 成为IV量测准确的关键点。IV测试解决方案中为了使Ic值降低，测试方案要么就是提供更长的扫描时间，提高dt 扫描时间，要么就是逐步缩小电压扫描范围降低dV的扫描范围，以达到克服容性目的。 高容性太阳电池组件IV测试现状 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 17l 行业控制差异率计算方法为（反态测量-正态值）/ （反态测量正态值之和的平均值），差异率≤0.5可接受 ；l 晶科实验室正反扫差异率≤0.2的脉冲时间作为可接受的脉冲时间进行测试；再找到合适的非线性高效模式下的合理脉宽，实际测试中采用高效测试模式合适脉冲进行测试。 新产品容性评估 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 18 0 .9 1 0 .4 5 0 .2 5 0 .1 5 0 .0 9 0 .0 5 0 .0 2 0 .0 0 0 .0 0 .1 0 .2 0 .3 0 .4 0 .5 0 .6 0 .7 0 .8 0 .9 1 .0 3 7 5 .5 3 7 6 .0 3 7 6 .5 3 7 7 .0 3 7 7 .5 3 7 8 .0 3 7 8 .5 3 7 9 .0 3 7 9 .5 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 7 0 8 0 2年 前 PERC 差 异 率 正 扫 反 扫 P型PERC组件电容效应评估 1 2 .6 4 .2 1 .0 0 .6 0 .4 0 .3 0 .2 0 .2 0 .1 0 .0 0 2 4 6 8 1 0 1 2 1 4 4 6 64 6 84 7 04 7 24 7 44 7 64 7 8 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 7 0 8 0 9 0 1 0 0PmW 目 前 PERC差 异 率 正 扫 反 扫通过对比评估两年前和目前市场主流的PERC组件，早期PERC组件容性影响对功率只有1W多；随着电池效率和开压的提升，目前市场主流PERC组件所需要的线性测试脉冲时间已经由60ms左右延长至100ms。 19 样 品 类 型 测 试 使 用 脉 冲 时 间 测 试 值 差 异 值 （ W） 差 异 率早期PERC组件 10ms （无容性组件测试脉冲） 375.67 1.28 0.3460ms（合适脉冲） 376.95目前PERC组件 10ms （无容性组件测试脉冲） 466.13 BSL BSL 60ms（早期PERC合适脉冲） 469.37 3.24 0.70 100ms（目前PERC最合适脉冲） 470.69 4.56 0.98 早期与目前PERC组件测试差异对比 l 早期PERC组件容性对功率的影响只有1W, 目前市场主流PERC组件容性的影响已接近1，容性导致的偏差越来越大；l PERC组件合适的线性脉冲时间已由早期5060ms延长至目前90100ms，晶科定期进行电容效应评估，确定合理的测试脉冲时间 20 N型TOPCON组件电容效应评估3 6 .2 1 6 .2 4 .2 1 .9 1 .4 1 .1 0 .9 0 .7 0 .6 0 .4 0 .3 0 .2 0 .1 0 .0 0 .0 0510152025303540475477479481483485487489491493495497499 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300PmW 脉 冲 时 间 ms目 前 主 流 N型 TOPCon 正 反 扫 差 异 率正 扫反 扫经评估验证，目前市场主流TOPCon组件准确测试所需要的线性脉冲时间需要280300ms。 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 21 样品类型 测试使用脉冲时间 测试值 差异值（W） 差异率型 TOPCon 10ms （无容性组件测脉冲） 468.90 / / 100ms（目前PERC合适脉冲） 482.80 13.90 3.18300ms（TOPCon最合适脉冲） 485.70 16.80 3.80 通过对比评估TOPCon不同脉宽下的测试结果，容性对TOP组件功率影响达到16.8w, 容性产生的测量偏差已到3.8左右; TOPCon准确测量所需要的脉宽时间要明显大于PERC. TOPCON组件不同脉冲下测试结果 22 51.931.717.8 7.5 5.2 4.3 3.7 3.1 2.7 2.5 2.4 2.1 1.9 1.7 1.4 1.1 1.0 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.2 0.1 0.1 0.0 0.0 0.0 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 315320325330335 340345350 30 50 70 90 110 130 150 170 190 200 220 240 260 280 300 320 340 360 380 400 450 440 480 500 520 550 570 600 PmW 脉 冲 时 间 ms 目 前 市 场 主 流 HIT组 件 正 反 扫 差 异 率正 扫 反 扫 HIT组件电容效应评估 市场主流HIT组件合适的测试脉宽需要达到550600ms。 23 样品类型 测试使用脉冲时间 测试值 差异值（W） 差异率HIT 100ms（目前PERC合适脉冲） 359.78 / / 300ms（TOPCon合适脉冲） 364.65 4.87 1.35550ms（HIT合适脉冲） 366.50 6.72 1.87HIT组件不同脉冲下 测试结果 通过评估HIT组件，容性对HIT组件测试偏差的影响要大于PERC和TOPCON 感谢您下载包图网平台上提供的PPT作品，为了您和包图网以及原创作者的利益，请勿复制、传播、销售，否则将承担法律责任包图网将对作品进行维权，按照传播下载次数进行十倍的索取赔偿ibaotu.com 24 晶科实验室拥有的高容性新产品测试的技术方案线性扫描模式；针对低容性组件 非线性扫描模式高容性组件 磁滞模式高容性组件 龙背测试模式高容性组件 分段测试高容性组件 SAT模式（逐次逼近） 高容性组件 改 变 能 源 结 构 ， 承 担 未 来 责 任 谢 谢