第 12 届中国光伏大会暨国际光伏展览会论文(晶体硅材料及电池)利用碘酒钝化测量晶体硅体少子寿命 *陈静伟 赵 雷 刁宏伟 闫保军 周 素 汤叶华 王 革 王文静中国科学院太阳能热利用及光伏系统重点实验室 , 中国科学院电工研究所 , 北京 100190 摘要摘要 利用微波光...
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6 附件二 技术专家领域、子领域和方向分类领域 子领域 方向1 电子信息1.1 软件 1.1.1 系统软件1.1.2 嵌入式软件1.1.3 中间件1.1.4 数据库管理系统1.1.5 软件开发工具软件1.1.6 软件测试工具软件1.1.7 信息安全软件1.1.8 数据仓库及决策支持软件 (含数据仓
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*多晶硅及硅片少子寿命的检测与分析刘 淑 萍 , 贺 珍 俊( 内蒙古神舟硅业有限责任公司 , 内蒙古 呼和浩特 0 1 0 0 7 0 )摘 要 少 数 载 流 子寿命 是 半 导 体 晶 体 硅材 料 的一 项重 要 参数 , 它 对 半 导 体器件的性 能 、 晶 体 硅太 阳 能电 池 .
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一般而言 ,硅片的厚度会影响到少子寿命的测量 .由于样品表面存在复合中心 ,这些复合中心会使有效寿命降低 . 硅片如果太薄 ,少子就会扩散到表面进行复合 ,从而导致寿命降低 对于高质量的硅片尤其重要 .,为了避免这种现象发生 ,通常采用碘酒钝化表面 ,.但碘酒钝化的表...
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